可变容量的高可靠Flash型FPGA配置存储器设计

摘要：

采用0.18μm 2P6M Flash工艺设计了一款FPGA配置存储器,为SRAM型FPGA提供了串行和并行的码流加载方式,最高工作频率为50MHz,具有存储容量可变、可靠性高的优点.通过设计地址侦测电路实现了该FPGA配置芯片的存储容量可变,从而提高了该配置芯片的适用范围;通过设计双模的复位电路,使芯片更适应复杂的电源环境,提高了上电复位的可靠性;通过设计存储器内建自测试(MBIST)电路,实现了对Flash全地址存储空间的自测试和对电路的高效筛选,减少了芯片的测试时间,同时提高了配置芯片存储空间的可靠性.

关键词：配置存储器、FPGA、可变容量、Flash、存储器内建自测试

所属期刊栏目：23

分类号：TN402(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：58-65