光学鉴定聚合物

摘要：

本发明是一种用于光学鉴定聚合物的系统。优选所述系统用于进行聚合物的线性分析。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN99811963.6

申请日期：1999-08-13

公开/公告号：CN1323355

公开/公告日：2001-11-21

主分类号：C12Q1/68

申请/专利权人:美国吉诺米克斯公司%普林斯顿大学托管委员会

发明/设计人:J·O·特根菲尔德特;R·H·奥斯丁;E·Y·陈

主申请人地址:美国麻萨诸塞州

专利代理机构:中国专利代理(香港)有限公司

代理人:邰红

国别省市代码:美国;US

权利要求：

权利要求书1、光学分析聚合物连接单元的系统，包括：光源，构建用于发射已知波长的光辐射；干涉站(interaction station)，构建用于接收所述光辐射和由所述光辐射产生的定域辐射点，所述干涉站也构建用于顺序所述接收聚合物的单元并布置成在所述定域辐射点顺序辐照所述单元；光学检测器，构建用于检测包括所述单元在所述定域辐射点相互作用得到的特征信号的辐射；和处理器，构建和布置用于根据所述测得的包括所述特征信号的辐射分析所述聚合物。