测量薄片材料磁性的方法和装置

摘要：

一种测量薄片材料磁性的方法，能在薄片材料的低和高磁粒子密度处都提供可靠的信号。首先测量头将薄片材料的磁性转换为电信号。测量头产生的电信号在某个信号范围中放大，使得薄片材料的具有低磁粒子密度的区域产生的较低振幅的电信号比薄片材料的具有高磁粒子密度的区域产生较高振幅的电信号放大更大的程度。为此目的，信号范围划分成至少三个各自恒定放大的范围。选择两个外侧范围的放大倍数相等，而中间范围的放大倍数大于外侧范围的放大倍数。在放大前，电信号最好偏移一个恒定值，使得信号范围的零点位于中间范围的中央。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN97190950.4

申请日期：1997-06-23

公开/公告号：CN1198231

公开/公告日：1998-11-04

主分类号：G07D7/00

申请/专利权人:吉赛克与德弗连特股份有限公司

发明/设计人:迪特尔·斯坦; 洛萨·许特

主申请人地址:联邦德国慕尼黑

专利代理机构:柳沈知识产权律师事务所

代理人:马莹

国别省市代码:德国;DE

权利要求：

一种测量薄片材料如钞票磁性的方法，其中至少进行下列步骤：转换薄片材料磁性为某信号范围的电信号，通过具有至少两个放大倍数恒定的信号范围的响应曲线放大电信号，在低振幅信号范围中的放大倍数比相邻信号范围的大。