半导体器件

摘要：

把耦合电容器２１和二极管２３并联在差分放大电路１０的输出节点Ｎ１和另一个差分放大电路５０的输入节点Ｎ３之间。在测试模式下，当把测试信号提供给测试焊接区４３时，开关电路４０接通，以使偏置电阻器３５短路，因此降低了在输入节点Ｎ３处的偏置电位。这使二极管２３接通，以用差分放大电路１０放大测试低频输入信号ＩＮ。在二极管２３的作用下，差分放大电路１０的输出绕到差分放大电路５０。因此，大体上可以通过检查从差分放大电路５０的输出焊接区５６得到的输出信号ＯＵＴ检查两个差分放大电路１０和５０。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN97121138.8

申请日期：1997-10-14

公开/公告号：CN1181658

公开/公告日：1998-05-13

主分类号：H03F3/195

申请/专利权人:冲电气工业株式会社

发明/设计人:水永直

主申请人地址:日本东京

专利代理机构:上海专利商标事务所

代理人:沈昭坤

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

一种半导体器件，其特征在于包括：具有输入端和输出侧的第一和第二放大电路；连接在所述第一放大电路的所述输出侧和所述第二放大电路的所述输入端之间的直流断路器，用于阻断所述第一放大电路输出信号中的直流分量和传输其交流分量；及和所述直流断路器并联的开关，它响应于所给定的控制信号使直流断路器短路。