一种相位量化Ａ／Ｄ变换的方法及其装置

摘要：

本发明公开了一种相位量化Ａ／Ｄ变换的方法及其装置。其装置包括：（ａ）一个移相装置［１０］，把输入的模拟信号变换成具有２^ｎ－１个不同相位的输出信号；（ｂ）与移相装置［１０］的输出相连接的２^ｎ－１个电压比较器［２０］，通过对由移相装置［１０］产生的２^ｎ－１个输出信号进行极性比较，产生２^ｎ－１个二进制数字代码；（ｃ）一个与２^ｎ－１个电压比较器[２０]的输出相连接的编码器[３０]，用于把电压比较器[２０]产生的２^n-1个二进制数字代码编码成ｎ_ｂｉｔ的二进制数字代码。本发明所述方法及其装置可用于雷达、通信、电子战及测试设备等领域。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN93107367.7

申请日期：1993-06-24

公开/公告号：CN1080796

公开/公告日：1994-01-12

主分类号：H03M1/12

申请/专利权人:周国富

发明/设计人:周国富; 姬国良

主申请人地址:100083北京市947信箱1305号房间

国别省市代码:北京;11

权利要求：

一种把输入模拟信号变换成数字信号的相位量化Ａ／Ｄ变换方法，包括以下步骤：ａ．对输入模拟信号进行移相，产生相位分别为：０°，±θ↓［ｉ］，ｉ＝１，２，…，２↑［ｎ－１］－１的２↑［ｎ］－１个具有不同相位的输出信号，其中，ｎ为量化位数，ｎ≥２。ｂ．对经移相产生的２↑［ｎ］－１个信号进行极性比较，产生２↑［ｎ］－１个二进制数字代码。ｃ．将经极性比较产生的２↑［ｎ］－１个二进制数字代码进行编码，形成ｎｂｉｔ的二进制数字代码。