半导体器件及其制造方法
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半导体器件及其制造方法

引用
一种适用于有源矩阵式液晶显示器的绝缘栅场效应晶体管。其沟道长度,即源区与漏区的间距被做成大于栅极沿沟道纵向所占的长度。在沟道区内,源区与漏区的侧面上形成有偏移(offset)区。这些偏移区不受或受到极微弱的来自栅极的电场作用。

发明专利

CN92110004.3

1992-08-22

CN1070052

1993-03-17

G02F1/00

株式会社半导体能源研究所

山崎舜平; 间濑晃; 广木正明; 竹村保彦; 张宏勇; 鱼地秀贵; 根本英树

日本神奈川县厚木市

中国专利代理(香港)有限公司

吴增勇% 肖掬昌

日本;JP

一种半导体器件的制造方法,该方法包括以下步骤:在半导体层上形成栅绝缘层;在所述栅绝缘层上形成栅极部分;将杂质离子植入所述半导体层,以赋予其为P型或n型导电率,同时以所述栅极部分作掩模,以在所述半导体层中形成源区或漏区;对所述植入步骤之后的所述栅极部分的表面部分进行阳极氧化;在所述阳极氧化步骤之后,使所述半导体器件经受热处理。
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法律状态详情>>
2003-09-17授权
1993-03-17公开
2012-10-10专利权的终止
1994-08-17实质审查请求的生效
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