ADC采集测试模块
本发明公开了一种ADC采集测试模块，包括：前端调理单元，其输入端接收高频模拟信号，其用于将高频模拟信号进行差分变化、增益调节和低通滤波后输出至高速ADC采集单元；ADC采集单元，其基于指定时钟进行信号采样，获得采样信号后输出至后端信号处理单元；后端信号处理单元，其对采样信号进行功率谱估计获得采样信号的频谱性能。本发明能用于数据量大、频带宽、高速采集应用场合，能提供良好的采集和测试精度。
发明专利
CN202410623145.0
2024-05-19
CN118367934A
2024-07-18
H03M1/10(2006.01)
上海华虹集成电路有限责任公司
左磊;赵来钖;杨喜锐
201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区中科路1867号1幢A座6层
上海浦一知识产权代理有限公司
焦天雷
上海;31
1.一种ADC采集测试模块，其特征在于，包括： 前端调理单元，其输入端接收高频模拟信号，其用于将高频模拟信号进行差分变化、增益调节和低通滤波后输出至高速ADC采集单元； ADC采集单元，其基于指定时钟进行信号采样，获得采样信号后输出至后端信号处理单元； 后端信号处理单元，其对采样信号进行功率谱估计获得采样信号的频谱性能。 2.如权利要求1所述的ADC芯片采集测试模块，其特征在于：ADC采集单元采用单通道开关型ADC； 前端调理单元内设有阻抗匹配电路，前端调理单元和ADC采集单元之间设有阻抗匹配电路。 3.如权利要求1所述的ADC芯片采集测试模块，其特征在于，前端调理单元包括： 差分转换电路，其对接收高频模拟信号进行单端到差分的变换，得到差分信号输出至增益调节电路； 增益调节电路，其对差分信号进行增益调节； 滤波电路，其对调节后信号低通滤波处理，滤除高频干扰。 4.如权利要求1所述的ADC芯片采集测试模块，其特征在于，ADC采集单元包括： ADC采样电路，其用于执行信号采样； 时钟电路，其提供ADC采样时钟。 5.如权利要求4所述的ADC芯片采集测试模块，其特征在于：时钟电路是采用射频信号发生器、低抖动时钟发生器或外部时钟模块。 6.如权利要求4所述的ADC芯片采集测试模块，其特征在于：ADC采样电路中模拟电压AVDD和数字电压DRVDD分开供电，并分别使用滤波电容进行滤波。 7.如权利要求1所述的ADC芯片采集测试模块，其特征在于：后端信号处理单元是FPGA处理模块用于对采样信号进行加汉明窗函数和补零操作。