ADC性能评估装置、系统和方法

摘要：

本发明公开了一种ADC性能评估装置、系统和方法，属于ADC测试技术领域。ADC性能评估装置，其特征在于，包括：基础信号源、多个信号源接口、波形叠加器和主控模块。不同信号源接口连接不同的信号源；波形叠加器分别与基础信号源和各信号源接口连接，且连接待测ADC的输入端；主控模块分别连接基础信号源、各信号源接口和波形叠加器；主控模块根据测试脚本控制基础信号源的工作状态，控制各信号源接口的通断状态，控制波形叠加器将接入的各源信号进行波形叠加生成测试信号，接收待测ADC根据测试信号输出的数字信号，并根据数字信号对待测ADC进行性能评估。本发明支持复杂波形的生成，可提升ADC性能评估结果的真实性和可靠性。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN202311487858.0

申请日期：2023-11-08

公开/公告号：CN117544167A

公开/公告日：2024-02-09

主分类号：H03M1/10(2006.01)

申请/专利权人:南方电网数字电网研究院有限公司

发明/设计人:习伟;李鹏;陈军健;张巧惠;吴雨沼;邝野;王逸兴;谢心昊;王泽宇

主申请人地址:510000 广东省广州市黄埔区中新广州知识城亿创街1号406房之86

专利代理机构:北京品源专利代理有限公司

代理人:苏舒音

国别省市代码:广东;44

权利要求：

1.一种ADC性能评估装置，其特征在于，包括： 基础信号源； 多个信号源接口；不同所述信号源接口用于连接不同的信号源； 波形叠加器；所述波形叠加器分别与所述基础信号源和各所述信号源接口连接，且所述波形叠加器用于连接待测ADC的输入端； 主控模块，分别连接所述基础信号源、各所述信号源接口和所述波形叠加器；所述主控模块用于根据测试脚本控制所述基础信号源的工作状态，控制各所述信号源接口的通断状态，控制所述波形叠加器将所述波形叠加器接入的各源信号进行波形叠加生成测试信号，接收所述待测ADC根据所述测试信号输出的数字信号，并根据所述数字信号对所述待测ADC进行性能评估。 2.根据权利要求1所述的ADC性能评估装置，其特征在于，还包括：接收器，连接于所述待测ADC的输出端和主控模块之间；所述主控模块通过所述接收器接收所述数字信号。 3.根据权利要求1所述的ADC性能评估装置，其特征在于，还包括：第一处理接口，连接所述主控模块，所述第一处理接口用于连接示波器。 4.根据权利要求1所述的ADC性能评估装置，其特征在于，还包括：第二处理接口，连接所述主控模块，所述第二处理接口用于连接波形解析拟合设备。 5.根据权利要求1-4中任一项所述的ADC性能评估装置，其特征在于，所述ADC性能评估装置包括三个信号源接口。 6.一种ADC性能评估系统，其特征在于，包括：多个信号源和如权利要求1-5中任一项所述的ADC性能评估装置。 7.根据权利要求6所述的ADC性能评估系统，其特征在于，所述基础信号源输出的源信号为正弦波； 所述信号源输出的源信号为正弦波、三角波、锯齿波、方波、脉冲波或阶梯波。 8.根据权利要求6所述的ADC性能评估系统，其特征在于，还包括：上位机，连接所述ADC性能评估装置中的主控模块。 9.根据权利要求6所述的ADC性能评估系统，其特征在于， 所述ADC性能评估装置中包括第一处理接口，所述ADC性能评估系统中还包括：示波器，连接所述第一处理接口； 和/或， 所述ADC性能评估装置中包括第二处理接口，所述ADC性能评估系统中还包括：波形解析拟合设备，连接所述第二处理接口。 10.一种ADC性能评估方法，其特征在于，基于权利要求6-9中任一项所述的ADC性能评估系统实现，由所述主控模块执行；所述ADC性能评估方法包括： 获取测试脚本； 根据所述测试脚本，控制所述基础信号源的工作状态，控制各所述信号源接口的通断状态，并控制所述波形叠加器将所述波形叠加器接入的各源信号进行波形叠加生成测试信号； 接收待测ADC根据所述测试信号输出的数字信号； 根据所述数字信号对所述待测ADC进行性能评估。