ADC芯片、电容偏差调整方法、装置及系统
本申请公开了一种ADC芯片、电容偏差调整方法、装置及系统，涉及电子技术领域，以解决现有ADC芯片因电容失配而影响ADC性能的问题。其中方法包括：获取测试仪器对第一ADC芯片的第m位电容的目标测量容值，第一ADC芯片的第一接口管脚和第二接口管脚分别连接测试仪器的第一探针和第二探针；根据目标测量容值与设计容值，确定目标权重；目标权重用作第二ADC芯片的第二逻辑控制单元中对应第m位电容的权重。这样，通过根据对第m位电容的测量容值与设计容值的偏差，调整下一版ADC芯片的逻辑控制单元对应第m位电容的权重，能够改善ADC芯片性能。
发明专利
CN202310629954.8
2023-05-31
CN117375611A
2024-01-09
H03M1/10(2006.01)
中国移动通信有限公司研究院%中国移动通信集团有限公司
王黎元;金鹏;宋骁雄;王大鹏;李男;张敏
100053 北京市西城区宣武门西大街32号;
北京银龙知识产权代理有限公司
欧文芳
北京;11
1.一种第一模数转换ADC芯片，其特征在于，包括：第一比较器、第一逻辑控制单元、第一数模转换DAC和测量接口单元，所述第一DAC的输出端与所述第一比较器的参考电压输入端连接，所述第一比较器的输出端与所述第一逻辑控制单元的输入端连接； 所述测量接口单元的第一接口管脚和第二接口管脚分别连接所述第一DAC的第m位电容的第一端和第二端，用于测量所述第m位电容的容值，其中，m为大于预设值k的整数，k为小于n的正整数，n为所述第一ADC芯片的位数。 2.根据权利要求1所述的第一ADC芯片，其特征在于，所述测量接口单元包括第一开关和第二开关，所述第一接口管脚通过所述第一开关连接所述第m位电容的第一端，所述第二接口管脚通过所述第二开关连接所述第m位电容的第二端； 所述测量接口单元的第三接口管脚连接所述第一开关的控制信号端和所述第二开关的控制信号端，用于接入开关控制信号。 3.根据权利要求1所述的第一ADC芯片，其特征在于，所述第m位电容为最高位MSB电容。 4.一种电容偏差调整方法，其特征在于，包括： 获取测试仪器对第一ADC芯片的第m位电容的目标测量容值，其中，所述第一ADC芯片为权利要求1至3中任一项所述的第一ADC芯片，所述第一ADC芯片的第一接口管脚和第二接口管脚分别连接所述测试仪器上用于测量电容容值的第一探针和第二探针； 在所述目标测量容值与所述第m位电容的设计容值之间的差值大于预设偏差阈值的情况下，根据所述目标测量容值与所述设计容值，确定所述第m位电容的目标权重； 其中，所述目标权重用作第二ADC芯片的第二逻辑控制单元中对应所述第二ADC芯片的第m位电容的权重。 5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取测试仪器对第一ADC芯片的第m位电容的目标测量容值，包括： 获取所述测试仪器分别对多个所述第一ADC芯片的第m位电容进行多次测量的测量容值，得到多个测量容值； 剔除所述多个测量容值中的极值； 根据剔除极值后的多个测量容值，确定所述目标测量容值。 6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标测量容值与所述设计容值，确定所述第m位电容的目标权重，包括： 确定所述第m位电容的目标权重为(C′/C)×2m-1，其中，C′表示所述目标测量容值，C表示所述设计容值。 7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一ADC芯片的测量接口单元包括第一开关和第二开关，所述第一接口管脚通过所述第一开关连接所述第m位电容的第一端，所述第二接口管脚通过所述第二开关连接所述第m位电容的第二端；所述测量接口单元的第三接口管脚连接所述第一开关的控制信号端和所述第二开关的控制信号端；所述第三接口管脚连接所述测试仪器上用于提供开关控制信号的第三探针； 所述目标测量容值是所述测试仪器对所述第一ADC芯片的第m位电容以第一方式测量得到的； 所述第一方式包括： 配置所述第三探针输出第一开关控制信号，以控制所述第一开关和所述第二开关处于导通状态； 通过所述第一探针和所述第二探针测量所述第m位电容的容值，得到第一容值； 根据芯片测量误差，对所述第一容值进行校正，得到所述目标测量容值。 8.一种第二ADC芯片，其特征在于，包括：第二比较器、第二逻辑控制单元和第二DAC，所述第二DAC的输出端与所述第二比较器的参考电压输入端连接，所述第二比较器的输出端与所述第二逻辑控制单元的输入端连接； 所述第二逻辑控制单元中对应所述第二DAC的第m位电容的权重为目标权重，所述目标权重为经权利要求4至7中任一方法得到的，其中，m为大于预设值k的整数，k为小于n的正整数，n为所述第二ADC芯片的位数。 9.一种电容偏差调整装置，其特征在于，包括： 获取模块，用于获取测试仪器对第一ADC芯片的第m位电容的目标测量容值，其中，所述第一ADC芯片为权利要求1至3中任一项所述的第一ADC芯片，所述第一ADC芯片的第一接口管脚和第二接口管脚分别连接所述测试仪器上用于测量电容容值的第一探针和第二探针； 确定模块，用于在所述目标测量容值与所述第m位电容的设计容值之间的差值大于预设偏差阈值的情况下，根据所述目标测量容值与所述设计容值，确定所述第m位电容的目标权重； 其中，所述目标权重用作第二ADC芯片的第二逻辑控制单元中对应所述第二ADC芯片的第m位电容的权重。 10.一种电容偏差调整系统，其特征在于，包括第一ADC芯片、测试仪器和电容偏差调整装置，其中，所述第一ADC芯片为权利要求1至3中任一项所述的第一ADC芯片，所述第一ADC芯片的第一接口管脚和第二接口管脚分别连接所述测试仪器上用于测量电容容值的第一探针和第二探针； 所述测试仪器用于对所述第一ADC芯片的第m位电容进行测量，得到目标测量容值； 所述电容偏差调整装置用于获取所述目标测量容值；在所述目标测量容值与所述第m位电容的设计容值之间的差值大于预设偏差阈值的情况下，根据所述目标测量容值与所述设计容值，确定所述第m位电容的目标权重； 其中，所述目标权重用作第二ADC芯片的第二逻辑控制单元中对应所述第二ADC芯片的第m位电容的权重，所述第二ADC芯片为权利要求8所述的第二ADC芯片。 11.一种电子设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序；其特征在于，所述处理器，用于读取存储器中的程序实现如权利要求4至7中任一项所述的电容偏差调整方法中的步骤。 12.一种计算机可读存储介质，用于存储计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求4至7中任一项所述的电容偏差调整方法中的步骤。