用于提供印刷产品和配属的认证信息的方法和用于认证印刷产品的方法
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用于提供印刷产品和配属的认证信息的方法和用于认证印刷产品的方法

引用
根据本发明的(提供)方法是一种用于提供能够通过计算技术认证的印刷产品和配属的认证信息的方法,所述方法具有下述步骤:印刷和检测第一子图像(A);印刷与所述第一子图像(A)至少局部地叠加的第二子图像(B),其中,产生叠加图像(C),并且检测所述叠加图像(C);计算和提供所述认证信息(30),所述认证信息包括关于所述第一子图像(A)、关于所述第二子图像(B)和关于所述叠加图像(C)的信息。根据本发明的(认证)方法是一种用于通过计算技术认证根据上述权利要求中任一项提供的印刷产品的方法,所述方法具有下述步骤:检测所述叠加图像(C);‑由所述叠加图像(C)和所提供的认证信息(30)中的至少一个认证信息计算比较信息(31);将所述比较信息(31)与所提供的认证信息(30)中的至少一个认证信息进行比较;其中,在所述计算时或者在所述比较时,使用关于所述第二子图像(B)的认证信息(30)。本发明使得能够以有利的方式成本有利地制造能够认证的印刷产品并且安全地认证该印刷产品。

发明专利

CN202310220144.7

2023-03-09

CN116728995A

2023-09-12

B42D25/30(2014.01)

海德堡印刷机械股份公司

M·施米特-莱文;F·布赖格

德国海德堡

永新专利商标代理有限公司

郭毅

德国;DE

1.一种用于提供能够通过计算技术认证的印刷产品和配属的认证信息的方法,所述方法具有下述步骤: -印刷和检测第一子图像(A); -印刷与所述第一子图像(A)至少局部地叠加的第二子图像(B),其中,产生叠加图像(C),并且检测所述叠加图像(C); -计算和提供所述认证信息(30),所述认证信息包括关于所述第一子图像(A)、关于所述第二子图像(B)和关于所述叠加图像(C)的信息。 2.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 将所述第一子图像(A)以光学的方式检测为与所述第一子图像(A)相对应的第一数字图像(A1)。 3.根据上述权利要求中任一项所述的方法, 其特征在于, 将所述叠加图像(C)以光学的方式检测为与所述叠加图像(C)相对应的共同的数字图像(C1)。 4.根据上述权利要求中任一项所述的方法, 其特征在于, 提供模式识别(9)。 5.根据权利要求3和4所述的方法, 其特征在于, 在应用所述模式识别(9)的情况下由所述共同的数字图像(C1)计算共同的特征矢量(C1*)。 6.根据权利要求2和3所述的方法, 其特征在于, 由所述共同的数字图像(C1)和所述第一数字图像(A1)计算与所述第二子图像(B)相对应的第二数字图像(B1)。 7.根据权利要求4和6所述的方法, 其特征在于, 在应用所述模式识别(9)的情况下由所述第二数字图像(B1)计算第二特征矢量(B1*)。 8.根据权利要求2、5和7所述的方法, 其特征在于, 提供所述第一数字图像(A1)、所述第二特征矢量(B1*)和所述共同的特征矢量(C1*)作为所述认证信息(30)。 9.根据权利要求2和4所述的方法, 其特征在于, 在应用所述模式识别(9)的情况下由所述第一数字图像(A1)计算第一特征矢量(A1*)。 10.根据权利要求6、5和9所述的方法, 其特征在于, 提供所述第二数字图像(B1)、所述第一特征矢量(A1*)和所述共同的特征矢量(C1*)作为所述认证信息(30)。 11.一种用于通过计算技术认证根据上述权利要求中任一项提供的印刷产品的方法,所述方法具有下述步骤: -检测所述叠加图像(C); -由所述叠加图像(C)和所提供的认证信息(30)中的至少一个认证信息计算比较信息(31); -将所述比较信息(31)与所提供的认证信息(30)中的至少一个认证信息进行比较; -其中,在所述计算时或者在所述比较时,使用关于第二子图像(B)的认证信息(30)。 12.根据权利要求11所述的方法, 其特征在于, 将所述叠加图像(C)以光学的方式检测为与所述叠加图像(C)相对应的另外的共同的数字图像(C2)。 13.根据权利要求11或12中任一项所述的方法, 其特征在于, 提供模式识别(9)。 14.根据权利要求12和13所述的方法, 其特征在于, 在第一阶段中,在应用所述模式识别(9)的情况下由所述另外的共同的数字图像(C2)计算另外的共同的特征矢量(C2*),并且将所述另外的共同的特征矢量与所提供的共同的特征矢量(C1*)进行比较。 15.根据权利要求14所述的方法, 其特征在于, 在第二阶段中,由所述另外的共同的数字图像(C2)和所提供的第一数字图像(A1)产生另外的第二数字图像(B2),并且在应用所述模式识别(9)的情况下由所述另外的第二数字图像(B2)计算另外的第二特征矢量(B2*)并且将所述另外的第二特征矢量与所提供的第二特征矢量(B1*)进行比较。
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