光刻胶去除用剥离液组合物
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光刻胶去除用剥离液组合物

引用
本发明的光刻胶去除用剥离液组合物具有如下的优点,即,即使未将对环境和人体有害的N‑甲基甲酰胺(N‑methylforamide,NMF)、N‑甲基吡咯烷酮(N‑methylpyrrolidone,NMP)作为主溶剂使用,也可在完成干式或湿式蚀刻后迅速剥离所改性的光刻胶,并且由于未在基板上残留异物及污痕,因此可明显提高工序上的效率。并且,还可使底膜的腐蚀最小化,从而具有可明显提高工序上的效率地优点。

发明专利

CN201710053375.8

2017-01-22

CN106997158A

2017-08-01

G03F7/42(2006.01)I

易案爱富科技有限公司

金珉姬;郑玄铁;李相大

韩国京畿道

上海弼兴律师事务所 31283

薛琦

韩国;KR

一种光刻胶去除用剥离液组合物,其特征在于,包含10重量百分比至80重量百分比的N‑乙基甲酰胺、1重量百分比至30重量百分比的胺化合物以及10重量百分比至80重量百分比的质子性极性溶剂。
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2019-02-12实质审查的生效
2017-08-01公开
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