光刻胶去除用剥离液组合物
本发明的光刻胶去除用剥离液组合物具有如下的优点,即,即使未将对环境和人体有害的N‑甲基甲酰胺(N‑methylforamide,NMF)、N‑甲基吡咯烷酮(N‑methylpyrrolidone,NMP)作为主溶剂使用,也可在完成干式或湿式蚀刻后迅速剥离所改性的光刻胶,并且由于未在基板上残留异物及污痕,因此可明显提高工序上的效率。并且,还可使底膜的腐蚀最小化,从而具有可明显提高工序上的效率地优点。
发明专利
CN201710053375.8
2017-01-22
CN106997158A
2017-08-01
G03F7/42(2006.01)I
易案爱富科技有限公司
金珉姬;郑玄铁;李相大
韩国京畿道
上海弼兴律师事务所 31283
薛琦
韩国;KR
一种光刻胶去除用剥离液组合物,其特征在于,包含10重量百分比至80重量百分比的N‑乙基甲酰胺、1重量百分比至30重量百分比的胺化合物以及10重量百分比至80重量百分比的质子性极性溶剂。