一种RFID识别试卷

摘要：

本实用新型公开了种RFID识别试卷，所述RFID识别试卷包括试卷本体，所述试卷本体上设有RFID芯片。本实用新型结构简单，大大提高了试卷的安全性和保密性。

专利类型：实用新型

申请/专利号：CN201621302139.2

申请日期：2016-11-30

公开/公告号：CN207388683U

公开/公告日：2018-05-22

主分类号：B42D15/00(2006.01)I

申请/专利权人:上海仪电智能电子有限公司

发明/设计人:杨辉峰;洪斌

主申请人地址:201206 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区金豫路818号

专利代理机构:上海天翔知识产权代理有限公司 31224

代理人:刘常宝

国别省市代码:上海;31

权利要求：

一种RFID识别试卷，其特征在于，所述RFID识别试卷包括试卷本体，所述试卷本体上设有RFID芯片,所述试卷本体包括上层本体和下层本体，所述上层本体与下层本体之间设有夹层，所述RFID芯片固定在夹层内,在夹层内填充有硬纸板，硬纸板的厚度与RFID芯片的厚度相同。