一种压印技术制备大面积光子晶体闪烁体的方法
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一种压印技术制备大面积光子晶体闪烁体的方法

引用
本发明涉及一种压印技术制备大面积光子晶体闪烁体的方法,选取压印模板和所需的塑料闪烁体,对模板进行防粘处理,利用进行过防粘处理的模板对塑料闪烁体进行热纳米压印,将压印处理后的模板与塑料闪烁体分离,从而获得与模板图形互补的光子晶体结构,其中压印模板的尺寸大于400mm<sup>2</sup>,采用特定的加热加压的方式进行热纳米压印。与现有技术相比,本发明可以制备大面积的光子晶体塑料闪烁体,按照所述温度和压强参数可以获得足够深度的光子晶体结构,在制备过程中可以避免模板或样品的损坏。

发明专利

CN201611032018.5

2016-11-22

CN106527043A

2017-03-22

G03F7/00(2006.01)I

同济大学

刘波;程传伟;顾牡;陈鸿;陈亮;刘金良;欧阳晓平

200092 上海市杨浦区四平路1239号

上海科盛知识产权代理有限公司 31225

陈亮

上海;31

一种压印技术制备大面积光子晶体闪烁体的方法,采用以下步骤:(1)选取压印模板和所需的塑料闪烁体;(2)对模板进行防粘处理;(3)利用进行过防粘处理的模板对塑料闪烁体进行热纳米压印;(4)脱模,将压印处理后的模板与塑料闪烁体分离,从而获得与模板图形互补的光子晶体结构,其特征在于,步骤(1)中所述的压印模板的尺寸大于400mm<sup>2</sup>,步骤(3)中采用加热加压的方式进行热纳米压印,压印采用的温度按照公式<img file="FDA0001158807880000011.TIF" wi="690" he="119" />确定,其中S是压印模板的面积,单位是平方毫米,T是温度,单位是摄氏度,压印采用压强按照<img file="FDA0001158807880000012.TIF" wi="690" he="119" />确定,其中S是压印模板的面积,单位是平方毫米,P是压强,单位是bar。
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2017-04-19实质审查的生效
2018-07-03授权
2017-03-22公开
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