一种用于像面数字全息显微测量的自动聚焦方法

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201610983732.6

申请日期：2016-11-08

公开/公告号：CN106502074A

公开/公告日：2017-03-15

主分类号：G03H1/00(2006.01)I

申请/专利权人:华中科技大学

发明/设计人:廖广兰;洪源;史铁林;王西彬;李易聪;刘咪;潜世界

主申请人地址:430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

专利代理机构:华中科技大学专利中心 42201

代理人:李欢

国别省市代码:湖北;42