光刻设备和方法
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光刻设备和方法

引用
光刻设备包括光学传感器(24)、可移动主体(20)、支撑件、偏转器系统(22)、第一驱动系统和第二驱动系统。可移动主体能够相对于传感器移动。支撑件用于保持传感器。第一驱动系统被设置为使可移动主体相对于传感器移动。第二驱动系统被设置为使第一驱动系统相对于传感器移动。第二驱动系统被设置为使偏转器系统相对于传感器移动。可移动主体的移动引起扰动。偏转器系统被设置为形成用于将扰动反射离开支撑件的偏转区域。

发明专利

CN201580043589.6

2015-06-25

CN106575087A

2017-04-19

G03F7/20(2006.01)I

ASML荷兰有限公司

G·纳齐博格鲁;S·考斯吉恩斯;F·J·J·范鲍克斯台尔;E·范德帕斯奇;A·奈斯特;L·索桑娜

荷兰维德霍温

中科专利商标代理有限责任公司 11021

吴敬莲

荷兰;NL

一种光刻设备,包括:光学传感器(24);可移动主体(20),所述可移动主体能够相对于所述传感器(24)移动;支撑件(48),用于保持所述传感器(24);偏转器系统(22);第一驱动系统(56);第二驱动系统(52);其中所述第一驱动系统(56)被设置为使可移动主体(20)相对于传感器(24)移动,其中所述第二驱动系统(52)被设置为使第一驱动系统(56)相对于传感器(24)移动,其中所述第二驱动系统(52)被设置为使偏转器系统(22)相对于传感器(24)移动,其中所述可移动主体(20)的移动引起扰动,其中所述偏转器系统(22)被设置为形成用于将扰动反射离开支撑件(48)的偏转区域(210)。
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2017-05-17实质审查的生效
2018-06-26授权
2017-04-19公开
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