一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统

摘要：

本发明涉及一种恒温晶体振荡器频率校准方法、装置及系统。读取预先设置的测试条件，并写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率，对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于二者的多项式函数，利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件，将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，读取晶体振荡器在校准频率对应的测试条件下的输出校准频率，对输出校准频率进行验证，若输出校准频率满足频率准确度范围，则校准结束；否则，调整多项式函数的系数后，继续执行。本发明能够自动完成恒温晶体振荡器频率校准，减少测量误差，实现自动、精确校准频率、提高生产效率的目的。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201410360260.X

申请日期：2014-07-25

公开/公告号：CN104143961A

公开/公告日：2014-11-12

主分类号：H03B5/04(2006.01)I

申请/专利权人:广东大普通信技术有限公司

发明/设计人:李坤然

主申请人地址:523808 广东省东莞市松山湖科技产业园区北部工业城中小科技企业创业园13-16栋

专利代理机构:北京品源专利代理有限公司 11332

代理人:胡彬%路凯

国别省市代码:广东;44

权利要求：

一种恒温晶体振荡器频率校准方法，其特征在于，包括：S1、读取预先配置的测试条件，写入晶体振荡器；S2、读取晶体振荡器在不同测试条件下的输出频率；S3、对测试条件与输出频率的关系数组进行最小二乘法曲线拟合得到关于测试条件与输出频率的多项式函数；S4、利用多项式函数，计算晶体振荡器的校准频率对应的测试条件；S5、将所述校准频率对应的测试条件写入晶体振荡器，输出校准频率，实现校准；其中，所述测试条件包括模拟的晶体振荡器工作的温度值。