一种校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法及装置

摘要：

本发明提供一种校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法及装置，该方法包括：获取当前温度值下MEMS计时时钟的初始频率误差值；计算需要获得频率所需要的降频参数；以初始频率误差值为初始值进行依次累加，当累加值数值大于等于1时发生溢出1；当数值小于等于-1时发生溢出-1；当数值大于-1且小于1时不发生溢出；采用值为降频参数与溢出值之和的降频比对MEMS计时时钟的实际输出频率进行降频，获得需要的频率。本发明运用0/1序列平均化MEMS计时时钟在某一温度下的初始频率误差值，实现了双向溢出补偿，扩展方案简单易行，具有成本优势。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201410331284.2

申请日期：2014-07-11

公开/公告号：CN104143960A

公开/公告日：2014-11-12

主分类号：H03B5/04(2006.01)I

申请/专利权人:钜泉光电科技（上海）股份有限公司

发明/设计人:张斌阳;张明雄;傅有炜;徐晨曦

主申请人地址:201203 上海市浦东新区张江高科技园区牛顿路200号8号楼601室

专利代理机构:上海光华专利事务所 31219

代理人:徐秋平

国别省市代码:上海;31

权利要求：

一种校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法，其特征在于，所述校正MEMS计时时钟的溢出补偿方法包括：获取当前温度值下MEMS计时时钟的初始频率误差值res，0≤|res|&lt;1；计算需要获得频率<img file="FDA0000536536920000011.TIF" wi="424" he="139" />所需要的降频参数M；其中，F表示MEMS计时时钟在当前温度值下的实际输出频率值，F₀表示MEMS计时时钟的标准输出频率值；r表示分频比，随着初始频率误差值res的变化而变化，故有M‑1≤r_min≤r≤r_max≤M+1，M为大于零的正整数；以res为初始值进行依次累加，即sum＝sum+res，当累加值sum数值大于等于1时发生溢出1，即溢出值ov＝1；当sum数值小于等于‑1时发生溢出‑1，即溢出值ov＝‑1；当sum数值大于‑1且小于1时不发生溢出，即溢出值ov＝0；采用降频比R＝M+ov对MEMS计时时钟的实际输出频率F进行降频，获得需要的频率f₀。