位置检测装置

摘要：

本发明涉及一种构成为达成使用了闭环控制的自动对焦机构和抖动校正机构且共用自动对焦用磁体和抖动校正用磁体从而谋求小型化的位置检测装置。位置检测装置包括：自动对焦机构，其用于使透镜沿透镜(1)的光轴(Z轴)移动；以及抖动校正机构，其用于使透镜沿与光轴正交的方向移动。另外，永磁体(2)固定于透镜(1)，永磁体(2)随着透镜(1)的移动而移动，利用位置传感器(4、6)检测其移动量。应用于自动对焦机构的自动对焦用的永磁体(2)和应用于抖动校正机构的抖动校正用的永磁体(2)设于透镜(1)附近且共用。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201380007618.4

申请日期：2013-05-31

公开/公告号：CN104081272A

公开/公告日：2014-10-01

主分类号：G03B5/00(2006.01)I

申请/专利权人:旭化成微电子株式会社

发明/设计人:笠松新

主申请人地址:日本东京都

专利代理机构:北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人:刘新宇%张会华

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

一种位置检测装置，其检测透镜在与该透镜的光轴方向垂直的平面内的位置从而检测用于抖动校正的位置，检测上述透镜在上述光轴方向上的位置从而检测用于自动对焦的位置，该位置检测装置的特征在于，包括：磁体，其随着上述透镜在上述光轴方向和与上述光轴垂直的平面内方向上移动而移动；第1位置传感器，其用于自动对焦，其检测随着该磁体在上述光轴方向上的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在上述光轴方向上的位置；以及第2位置传感器，其用于抖动校正，其检测随着上述磁体在与上述光轴方向垂直的平面内的移动而变化的磁场，从而检测上述透镜在与上述光轴方向垂直的平面内的位置。