ATP荧光快速检测仪全避光检测装置

摘要：

本实用新型公开了一种ATP荧光快速检测仪全避光检测装置，包括有相互连接的光电检测器和检测室，在检测室上连接检测室盖；所述检测室内设有检测通道，所述检测通道的垂直截面为L型，检测通道顶端开有放样孔，底端右侧开有通光孔，检测室顶端设有第一挡光壁，第一挡光壁处于放样孔的外沿上方，在通光孔外的检测室表面上设有第二挡光壁，所述光电检测器连接在第二挡光壁所在的检测室侧面上，通光孔与所述光电检测器内相通；检测室盖底面设有第三挡光壁，其与所述第一挡光壁相匹配，在检测室盖旁侧设有固定转轴孔，前端设开启凹槽。由于检测室与检测盖分离，这样不仅简化了结构，而且方便了仪器的安装。

专利类型：实用新型

申请/专利号：CN201320194690.X

申请日期：2013-04-17

公开/公告号：CN203222589U

公开/公告日：2013-10-02

主分类号：C12M1/34(2006.01)I

申请/专利权人:中国广州分析测试中心

发明/设计人:倪树标;张冠文;陈云;陈江韩;刘日威;黎国标

主申请人地址:510070 广东省广州市先烈中路100号34号楼

专利代理机构:广州科粤专利商标代理有限公司 44001

代理人:黄培智

国别省市代码:广东;44

权利要求：

ATP荧光快速检测仪全避光检测装置，包括有相互连接的光电检测器（3）和检测室（2），在检测室（2）上连接检测室盖（4），；其特征在于：所述检测室（2）内设有检测通道（21），所述检测通道（21）的垂直截面为L型，检测通道（21）顶端开有放样孔（211），底端右侧开有通光孔（212），检测室（2）顶端设有第一挡光壁（22），第一挡光壁（22）处于放样孔（211）的外沿上方，在通光孔（212）外的检测室（2）表面上设有第二挡光壁（24），所述光电检测器（3）连接在第二挡光壁（24）所在的检测室（2）侧面上，通光孔（212）与所述光电检测器（3）内相通；检测室盖（4）底面设有第三挡光壁（41），其与所述第一挡光壁（22）相匹配，在检测室盖（4）旁侧设有固定转轴孔（42），前端设开启凹槽（43）。