一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法
本发明公开了一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法，将余弦信号输入到时间交替ADC采集系统，在相同的时钟间隔上，时间交替ADC采集系统在不同采样时钟相位下，通过多路的并行通道以相同的采样频率进行并行采样，再将采样输出的信号进行傅里叶变换得到频谱幅值数据，在时间偏移误差为零时分别计算出各个通道的增益和偏置误差。这样可以简单快速的确定各个通道的增益和偏置误差，并完成误差校准。
发明专利
CN201310683589.5
2013-12-16
CN103647554A
2014-03-19
H03M1/10(2006.01)I
电子科技大学
郭连平;王志刚;罗光坤;刘涛;邓小飞
611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220
温利平
四川;51
一种测量时间交替ADC采集系统偏置与增益误差的方法，其特征在于，包括以下步骤：?（1）、将余弦信号x(t)输入到时间交替ADC（TIADC，Time?interleaved?ADC）采集系统，x(t)的幅度为A，频率为fin，初始相位则φin，则x(t)可表示为x(t)＝Acos(2πfint+φin)，其中，L为FFT点数，L＝2m，m为正整数，fs为系统等效采样率，P为正整数并且与L互质，即L与P只有一个公约数为1，经过TIADC采集系统处理后输出信号xi(t)，i＝0,1,...,M?1，M为TIADC采集系统的并行通道数，各个通道采用相同的ADC以相同采样率f对x(t)采样后输出，xi(t)为第i通道的输出信号，当时间误差ti=0时，第i通道采样输出受增益误差gi与偏置误差oi的影响为：?x′i(t)=[(1+gi)Ax(t)+oi]×pi(t)?=[(1+gi)AAcos(2πfint+φin)+oi]×pi(t)；?????????????(a)A其中，为每个通道的取样脉冲函数，周期T＝1/f，n表示采样采样次数，即第i个通道在采样时刻时对x(t)进行采样，每隔T采样一次，采样一次n加1，通过对每个通道的输出进行DFT变换，可得到与通道增益和偏置误差相对应的频谱分量为：?通过式（b）得到由增益误差引起的混叠频谱分量位于如下频点：?fgi＝if±fin?i＝0,1,...,M?1；??????????????（d）?通过式（c）得到由偏置误差引起的混叠频谱分量位于如下频点：?foi＝if?i＝0,1,2,...,M?1；????????????????（e）?（2）、对输出信号xout(t)进行L点的FFT变换，得到L点的频谱数据,根据式（d），从L点频谱数据中获取对应于i＝0,1,2,...,M?1的M个频谱幅值数据；根据式（e），从L点频谱数据中获取对应于i＝0,1,2,...,M?1的M个频谱幅值数据；?（3）、计算各个通道的增益误差和偏置误差；?根据式（d）分别计算出各个通道的增益误差：?其中，A，φin分别为输入余弦信号的幅度及初相，T为单通道ADC的采样周期；?根据公式（e）分别计算出各个通道的偏置误差：?其中，ko＝1/T；式（d）和（e）中的W为：?。FDA0000438414260000011.jpg,FDA0000438414260000013.jpg,FDA0000438414260000014.jpg,FDA0000438414260000015.jpg,FDA0000438414260000016.jpg,FDA0000438414260000021.jpg,FDA0000438414260000022.jpg,FDA0000438414260000023.jpg,FDA0000438414260000024.jpg