一种自动校准超高速DAC采样窗时漂和温漂技术

摘要：

本发明公开的一种自动校准超高速DAC采样窗时漂和温漂技术提供了一种消除温度和时间对物理硬件特性的改变造成的采样窗偏移的自动修正的技术，然后利用信号耦合通道、信号滤波通道、功率监控、高精度采集实时获取自动校准单音信号的功率，最后通过控制软件自动校准采样窗。由于该技术对输出信号进行了一个反馈监控，可以实时校准由于温度和时间引起的采样窗的偏移，该方式就克服了时漂、温度采集误差、校准的盲目性。该技术具有在多种平台上改进、可移植性强、成本低、灵活性强等特点，让高速调制器平台能在恶劣的环境中工作。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201310552163.6

申请日期：2013-11-06

公开/公告号：CN103560791A

公开/公告日：2014-02-05

主分类号：H03M1/10(2006.01)I

申请/专利权人:绵阳市维博电子有限责任公司%四川省绵阳西南自动化研究所

发明/设计人:陈航;卢峥;王能;梅勇

主申请人地址:621000 四川省绵阳市游仙区游仙东路98号

专利代理机构:北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人:王学强%魏晓波

国别省市代码:四川;51

权利要求：

一种自动校准超高速DAC采样窗时漂和温漂技术，包括硬件和控制软件，其特征在于，所述的硬件包含信号耦合通道、信号滤波通道、功率监控和高精度采集，控制软件包含单音校准信号合成、功率实时监控、自动调整采样相位，控制软件通过下发命令控制FPGA中DDS合成一定频率的单音校准信号，高速调制器中DAC芯片输出对应频点的校准信号A，校准信号A通过信号耦合通道后得到用于被实时监控的校准信号B，校准信号B与校准信号A特性相同，信号滤波通道完成对校准信号B的滤波得到校准信号C，功率监控采用检波器对校准信号C进行功率测量，高精度采集对检波器的输出进行采样映射出校准信号A的功率，从而实现控制软件对校准信号A的功率实时监控，判断是否需要调整采样相位。