AD转换电路和微控制器以及采样时间调整方法

摘要：

本发明的课题提供一种AD转换电路，其包括：采样保持电路，将从输入端子输入的模拟输入电压施加到由多个电容构成的电容阵列，蓄积电荷直到所设定的采样时间为止；比较器电路，从各电容依次读出所述电容阵列的各电容的电压，与预先设定的基准电压比较而生成数字信号；以及采样时间调整电路，测量与从所述输入端子所连接的外部装置输入的调整用电压相应地在所述采样保持电路的输入侧上升的电压达到相对于所述基准电压而预定的阈值为止的时间，将基于该测量的时间而求出的时间设定为所述采样时间。从而，能够与随按用途连接的外部装置而变化的输入阻抗值对应地自动设定采样时间。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201310064945.5

申请日期：2013-03-01

公开/公告号：CN103297053A

公开/公告日：2013-09-11

主分类号：H03M1/34(2006.01)I

申请/专利权人:拉碧斯半导体株式会社

发明/设计人:山田敏己

主申请人地址:日本东京都

专利代理机构:中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人:何欣亭%李浩

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

 一种AD转换电路，包括：采样保持电路，将从输入端子输入的模拟输入电压施加到由多个电容构成的电容阵列，蓄积电荷直到所设定的采样时间为止；比较器电路，将所述电容阵列的各电容的电压依次从各电容读出，与预先设定的基准电压比较而生成数字信号；以及采样时间调整电路，测量与从所述输入端子所连接的外部装置输入的调整用电压相应地在所述采样保持电路的输入侧上升的电压达到相对于所述基准电压而预定的阈值为止的时间，将基于该测量的时间而求出的时间设定为所述采样时间。