一种基于信号频域稀疏性的TIADC时间失配参数盲测量方法
本发明涉及一种基于信号频域稀疏性的TIADC时间失配参数盲测量方法。所述方法通过采用TIADC系统的非均匀采样输出值，输入信号的频域稀疏特性和TIADC系统的多通道并行架构特点，采用全相位谱分析技术、奈奎斯特采样定理和欠采样定理，实现TIADC系统的时间失配参数的估计。该方法通过全相位快速傅里叶变换获取TIADC系统及各个子通道输出数据的频谱，通过计算输入信号非混叠频率点以及其在子通道欠采样输出数据频谱中对应的频率点的相位信息来确定各通道间时间失配参数。本发明所述方法计算复杂度为O(NlogN)，估计精度高，对量化噪声不敏感，对输入信号频率无限制，对TIADC系统的通道数无限制，能够在线工作，非常适用于TIADC系统在现代通讯，雷达，高精密数字仪器中的应用。
发明专利
CN201210454365.2
2012-11-13
CN103812506A
2014-05-21
H03M1/10(2006.01)I
邹月娴%徐祥俊
邹月娴;徐祥俊
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城北大园区
广东;44
一种基于信号频域稀疏性的TIADC时间失配参数盲测量方法，其特征在于采用时间交替模拟数字转换系统，即TIADC系统，的实际非均匀采样输出数据，利用TIADC系统的输入信号的频域稀疏特性和TIADC系统的多通道并行架构特点，采用全相位谱分析技术、奈奎斯特采样定理和欠采样定理的数学方法，实现TIADC系统的通道间时间相位失配参数值的盲估计，具体原理表述如下：对于具有M个子通道的TIADC系统，第m子通道实际输出数据的频谱为Y<sub>m</sub>(e<sup>jω</sup>)，第m通道相对于第0通道的通道间时间相位失配参数Δt<sub>m</sub>由下式计算：<img file="FSA00000805127200011.tif" wi="1529" he="248" />其中，T<sub>s</sub>为TIADC系统采样周期，ω<sub>p</sub>为输入信号频域非混叠频率点，<img file="FSA00000805127200012.tif" wi="43" he="28" />为ω<sub>p</sub>在第m子通道欠采样输出信号频谱Y<sub>m</sub>(e<sup>jω</sup>)中的对应频率点，利用TIADC系统的多通道并行架构和子通道处于欠采样状态的特性，根据采样定理和欠采样定理可以得到第m子通道输出频谱和输入信号频谱的数学关系如下：<img file="FSA00000805127200013.tif" wi="1541" he="116" />其中，X<sub>a</sub>为模拟输入信号频谱，M为TIADC系统通道数，T<sub>s</sub>为TIADC系统采样周期。由于模拟输入信号具有频域稀疏性，子通道输出信号频谱中总是存与输入信号频率非混叠频率点对应的<img file="FSA00000805127200014.tif" wi="54" he="28" />根据公式(2)，子通道输出信号在频率点<img file="FSA00000805127200015.tif" wi="42" he="27" />处的频谱可表示为：<img file="FSA00000805127200016.tif" wi="1541" he="115" />TIADC系统通道间时间相位失配一般很小，其输入信号的频谱可由TIADC系统输出信号进行估计，因此公式(3)中仅有未知量Δt<sub>m</sub>，通过数学变换即可求得公式(1)。综上，本算法实现了对TIADC系统通道间时间相位失配参数的盲估计。