一种全局调平边沿扫描的装置和方法
本发明提供一种全局调平边沿扫描的装置,包括:一工件台,用于承载一硅片,并为该硅片提供多个自由度运动;工件台驱动装置,用于驱动所述工件台;调焦调平装置,用以实现对硅片和调焦调平装置的标记的垂向测量并建立两者之间的关系;测量系统,用于测量所述工件台的位置;第一传输系统,用于输入信息,所述输入信息为所述测量系统测得的信息;计算器,用于根据输入的信息进行计算得出全局调平边沿扫描的初始位置;第二传输系统,用于将初始位置信号传输给所述工件台驱动装置;所述工件台驱动装置驱动所述工件台从初始位置开始进行全局调平边沿扫描,最终回到初始位置。本发明还提供一种全局调平边沿扫描的方法。
发明专利
CN201210285811.1
2012-08-13
CN103592820A
2014-02-19
G03F7/20(2006.01)I
上海微电子装备有限公司
吴飞;王献英;束奇伟;孙刚;袁志扬
201203 上海市浦东新区张江高科技园区张东路1525号
北京连和连知识产权代理有限公司 11278
王光辉
上海;31
一种全局调平边沿扫描的装置,其特征在于,包括:?工件台,用于承载一硅片,并为所述硅片提供多个自由度运动;工件台驱动装置,用于驱动所述工件台;?调焦调平装置,用以实现对硅片和调焦调平装置的标记的垂向测量并建立两者之间的关系;?测量系统,用于测量所述工件台的位置;第一传输系统,用于输入信息,所述输入信息为所述测量系统测得的信息;计算器,用于根据输入的信息进行计算得出全局调平边沿扫描的初始位置;第二传输系统,用于将初始位置信号传输给所述工件台驱动装置;所述工件台驱动装置驱动所述工件台从初始位置开始进行全局调平边沿扫描,最终回到初始位置。