A/D转换器的测试装置以及测试方法

摘要：

本发明涉及A/D转换器的测试装置以及测试方法，其能缩短A/D转换器的测试时间。本发明可提供对N位(N是自然数)的A/D转换器(1)进行测试的测试装置(2)。电压生成部(10)对A/D转换器(1)输出2N等级的模拟电压VIN。采集单元(20)对各等级中的A/D转换器(1)的输出代码DOUT进行采集。信号处理部(30)将在各等级中所采集的输出代码DOUT与对应的期望值代码EXP进行比较，根据比较结果对各等级的模拟电压VIN的值进行校正，并使校正后的模拟电压VIN输出到电压生成部(10)。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201210061576.X

申请日期：2012-03-09

公开/公告号：CN102684696A

公开/公告日：2012-09-19

主分类号：H03M1/10(2006.01)I

申请/专利权人:株式会社爱德万测试

发明/设计人:浅见幸司;古川靖夫

主申请人地址:日本东京

专利代理机构:北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291

代理人:黄志华

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

一种测试装置，其是N位的A/D转换器的测试装置，N是自然数，其特征在于，包括：电压生成部，其对所述A/D转换器输出2N等级的模拟电压；采集单元，其对各等级中的所述A/D转换器的输出代码进行采集；信号处理部，其将在各等级中所采集的输出代码与对应的期望值代码进行比较，根据比较结果对各等级的模拟电压的值进行校正，并使校正后的模拟电压输出到所述电压生成部。