一种原子频标仿真方法和仿真器

摘要：

本发明公开了一种原子频标仿真方法和仿真器，该仿真方法包括获取仿真参数，根据获得的仿真参数得到鉴频斜率，所述鉴频斜率根据公式该仿真器由压控晶体振荡器模块、微波探询信号产生模块、量子系统模块和伺服环路模块对应的仿真模型依次首尾相连而成。所述量子系统模块的仿真模型根据公式其中Kr表示量子系统的鉴频斜率，为微波探询信号中的调制信号的载波角频率，为调频频率，″m为调频频率的最大频偏，为原子跃迁频率，为线宽，S0为线高。该仿真方法和仿真器可以给模块调试人员提供参考，便于原子频标的制造。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201110086415.1

申请日期：2011-04-07

公开/公告号：CN102130685A

公开/公告日：2011-07-20

主分类号：H03L7/26(2006.01)I

申请/专利权人:江汉大学

发明/设计人:雷海东;詹志明;刘晓东;李建民;侯群;黄红;秦工

主申请人地址:430056 湖北省武汉市沌口经济技术开发区新江大路8号江汉大学

专利代理机构:北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138

代理人:张正星

国别省市代码:湖北;42

权利要求：

一种原子频标仿真方法，其特征在于，包括：获取仿真参数，所述仿真参数包括原子吸收谱线的线高、线宽、微波探询信号中的调制信号的载波角频率、调频频率和调频频率的最大频偏；以及根据所述仿真参数得到量子系统的鉴频斜率，所述鉴频斜率根据公式其中Kr表示量子系统的鉴频斜率，为微波探询信号中的调制信号的载波角频率，为调频频率，″m为调频频率的最大频偏，为原子跃迁频率，为线宽，S0为线高。FDA0000054208230000011.tif,FDA0000054208230000012.tif,FDA0000054208230000013.tif,FDA0000054208230000014.tif,FDA0000054208230000015.tif