减少开关电容采样噪声的技术

摘要：

本发明公开了一种新型基于开关电容的采样技术，与传统的采样技术相比，该发明通过额外增加一个采样阶段的电容，大幅度降低采样过程中由于开关电阻引入的热噪声，该热噪声往往是电路精度的瓶颈，另一方面，该额外引入的采样电容并不会对开关电容的积分阶段产生影响。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201110080627.9

申请日期：2011-03-30

公开/公告号：CN102281033A

公开/公告日：2011-12-14

主分类号：H03B29/00(2006.01)I

申请/专利权人:上海北京大学微电子研究院

发明/设计人:张耀国;程玉华

主申请人地址:201203 上海市浦东新区张江高科技园区盛夏路608号

国别省市代码:上海;31

权利要求：

一种基于开关电容的新型采样电路，该电路通过在采样阶段引入额外的电容，可以有效地降低由于开关等效电阻引入的热噪声，即大幅度提高采样精度。同时在采样阶段断开该电容与电路的联系，使之不会对积分电路造成影响。即不会影响原电路的积分系数。