一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法
本发明涉及回转窑尘降室工艺参数检测控制，具体地说是涉及炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法。本发明方法是将原来的测量点接口堵死，测温元件从尘降室的顶部插入移到尘降室入口的气封环处插入，测量端延伸到气封环中心位置；同时将尘降室出口处温度的测温元件移至尘降室出口的钢烟道上部插入，测温点选在出口烟道中心位置，解决了因测温点位置偏移带来测量数据不真实现象。负压采样管移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上，采样管深度到气封环中心一半的位置；同时将尘降室出口负压检测点移至尘降室出口烟道上部，测量点到烟道中心的二分之一位置，完全满足了生产工艺对负压检测的要求。
发明专利
CN201010176152.9
2010-05-09
CN101839634A
2010-09-22
F27B7/42(2006.01)I
中国铝业股份有限公司
薛巨忠;董振芳;刘联邦
100088 北京市西直门北大街62号
西宁金语专利代理事务所 63101
哈庆华
北京;11
一种炭素回转窑尘降室温度及负压检测方法，其特征在于：所述的炭素回转窑尘降室温度检测是将原来的炭素回转窑尘降室温度测量点接口堵死，将尘降室入口测温元件(6)从尘降室的顶部插入移到尘降室入口气封环尘降室入口测温点(2)处插入，尘降室入口测温元件(6)测量端延伸到气封环中心位置；同时将尘降室出口测温元件(9)移至尘降室出口的余热烟道(10)上部尘降室出口测温点(5)处插入，尘降室出口测温元件(9)测温端延伸至出口烟道中心位置；所述的炭素回转窑尘降室负压检测是将尘降室入口负压采样管(7)移到回转窑与尘降室入口固定的气封环上尘降室入口负压检测点(3)处，负压采样管(7)深度到气封环中心一半的位置；同时将尘降室出口负压采样管(8)移至尘降室出口烟道上部尘降室出口负压检测点(4)处，尘降室出口负压采样管(8)测压端延伸至烟道中心的二分之一位置。