介质厚度检测装置

摘要：

本发明提供一种介质厚度检测装置，即使多个位移检测传感器紧密配置，各位移检测传感器间的磁场也不会干扰，能够正确地检出介质的厚度。其结构为：按每个检测辊(34a～34f)成对设置位移检测传感器(33a～331)，根据从该成对设置的各位移检测传感器(33a～331)的线圈产生的磁场变化，检测出检测辊(34a～34f)发生弹性位移的辊位移量，来检测介质的厚度，将沿上述检测辊(34a～34f)的轴向排列的多个位移检测传感器(33a～331)划分为非邻接组(a、b)，该非邻接组(a、b)是对在该排列方向上不邻接的非邻接位移检测传感器彼此进行区分而成的组，对取得上述辊位移量的上述非邻接组(a、b)进行切换。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN201010168941.8

申请日期：2010-04-27

公开/公告号：CN101872501A

公开/公告日：2010-10-27

主分类号：G07D5/02(2006.01)I

申请/专利权人:日立欧姆龙金融系统有限公司

发明/设计人:麦健忠

主申请人地址:日本东京都

专利代理机构:永新专利商标代理有限公司 72002

代理人:徐殿军

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

一种介质厚度检测装置，其特征为，具备：基准辊；检测辊组，内置有弹性构件而在径向上允许弹性位移，并且与上述基准辊相对置地在同一轴向上配置多个检测辊；运送机构，对相对置的上述基准辊和检测辊组中的至少一方进行旋转驱动，并在两辊间夹持运送介质；位移检测传感器组，按每个上述检测辊成对设置位移检测传感器，根据从该成对设置的各位移检测传感器的线圈产生的磁场发生变化这一情况，检测上述检测辊弹性位移的辊位移量；以及切换机构，将沿上述检测辊的轴向排列的多个位移检测传感器划分为非邻接组，该非邻接组是对在该排列方向上不邻接的非邻接位移检测传感器彼此进行区分而成的组，对取得上述辊位移量的上述非邻接组进行切换。