一种占空比检测电路

摘要：

本发明公开了一种占空比检测电路，包括倍频单元、占空比检测单元与输出锁存器，其中：所述倍频单元的待检测占空比信号输入端与占空比检测单元的待检测占空比信号输入端连接，第一时钟输出端与占空比检测单元的时钟信号输入端连接，第二时钟信号输出端与输出锁存器的时钟信号输入端连接；所述占空比检测单元的待检测占空比信号输出端与输出锁存器的锁存信号输入端连接，所述输出锁存器的锁存信号输出端用于输出锁存结果。本发明所述占空比检测电路，可以克服现有技术中检测精度低、频率范围窄和成本高等缺陷，以实现检测精度高、频率范围宽和成本低的优点。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200910209432.2

申请日期：2009-10-30

公开/公告号：CN102055443A

公开/公告日：2011-05-11

主分类号：H03K5/19(2006.01)I

申请/专利权人:无锡海威半导体科技有限公司

发明/设计人:沈克愈

主申请人地址:214112 江苏省无锡市新区梅村工业集中区群兴路30号

专利代理机构:北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249

代理人:夏晏平

国别省市代码:江苏;32

权利要求：

一种占空比检测电路，其特征在于，包括倍频单元、占空比检测单元与输出锁存器，其中：所述倍频单元的待检测占空比信号输入端与占空比检测单元的待检测占空比信号输入端连接，第一时钟输出端与占空比检测单元的时钟信号输入端连接，第二时钟信号输出端与输出锁存器的时钟信号输入端连接；所述占空比检测单元的待检测占空比信号输出端与输出锁存器的锁存信号输入端连接，所述输出锁存器的锁存信号输出端用于输出锁存结果。