一种具有相同游程长度的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元
本发明涉及一种大规模集成电路测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元，属于集成电路测试技术领域。为了降低测试数据的存储容量，缩短测试应用时间，本发明公开了一种大规模集成电路测试数据压缩的编码方法，通过存储程序的计算机执行如下步骤：首先以位串为基本单元，对0和1两种类型的游程进行统计，将测试数据分割开来，统计位串的长度，再利用二种不同类型的编码方式对位串长度进行编码，使编码方式既考虑到变长码使用短的代码字来代替长的原始位串，又考虑游程之间的相关性，对于具有相同游程长度的连续游程的后续游程可以进一步用短的代码字来表示，实现数据的压缩；解码的方法是利用针对本压缩方法制作的解码单元来进行解压缩的。
发明专利
CN200910116595.6
2009-04-21
CN101604974
2009-12-16
H03M7/46(2006.01)I
陈向前
陈向前
246001安徽省安庆市经济技术开发区迎宾路293号
安徽;34
1、一种具有相同游程长度的测试数据压缩编码、解码方法及专用解码单元，其特征是：首先以位串为基本单元，同时对0和1两种类型的游程进行统计，将测试数据分割开来，统计位串的长度，再利用二种不同类型的编码方式对位串长度进行编码，使编码方式既考虑到变长码使用短的代码字来代替长的原始位串，又考虑游程之间的相关性，对于具有相同游程长度的连续游程的后续游程可以进一步用短的代码字来表示，实现数据的压缩；解压缩的方法是利用针对本压缩方法制作的解码单元来进行解压缩的。具体步骤为：a、采用自动测试模式生成工具ATPG，生成确定的完全测试集T；b、对所述的测试集进行游程分析，即将测试数据按0和1两种类型的游程进行分割，无关位暂不填充，统计分割后每段可能的游程长度；c、无关位的填充，先考虑相邻游程之间的相关性，即尽可能的使相邻连续游程长度相同，对剩下的无关位的填充则是考虑使前一游程长度尽可能最大；d、对填充后的测试数据进行编码采用两种编码方式，对于相同长度的相邻游程和后续游程使用类型1的编码方式，对于其它数据的编码则使用类型2的编码方式，最终实现了测试数据压缩；然后，利用自动测试设备(ATE)将压缩的数据导入被测芯片，由被测芯片的解压缩电路来进行解压，最后将解压缩后的数据传输到被测电路的扫描链。