一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码的构造方法
本发明公开了一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码及其构造方法，特征是利用一组移位项系数构造的校验矩阵能够实现码长的连续变化；所构造出的一类特纳图周长值至少为十的具有很高纠错能力的规则准循环低密度奇偶校验码，能够提供丰富码率和码长的码字，并且具有利于解码器硬件实现的简单结构，与一般的准循环低密度奇偶校验码校验矩阵构造方法相比，本发明的构造方法大大增加了多种码率下可用的高性能准循环低密度奇偶校验码数量，更好地服务于自适应链路系统。
发明专利
CN200810155541.6
2008-10-08
CN101394186
2009-03-25
H03M13/11(2006.01)I
中国科学技术大学
刘 磊;周武旸
230026安徽省合肥市金寨路96号
安徽省合肥新安专利代理有限责任公司
汪祥虬
安徽;34
1、一种码长连续变化的准循环低密度奇偶校验码的构造方法，包括：构造mL×nL的准循环低密度奇偶校验码校验矩阵H：式1式1中所示的校验矩阵H行重为n，n＝1，2，…9，列重为m，m＝2，3，n>m；L×L的子矩阵由单位阵向右循环移位移位项系数值aij得到，其中aij定义在环基数为L的整数环上，i∈0，1，…，m-1；j∈0，1，…，n-1；当所构造的校验矩阵H满秩时，利用式1构造的码字码率为码长为N＝nL；其特征在于：设子矩阵移位项系数aij：aij＝2ilj 式2式2中lj为非负整数，其中0≤j<n，且当x≤y时，有lx≤ly；先消除校验矩阵H中小特纳图周长值的圈：对于列重为2的式1所示校验矩阵II及式2所示的其子矩阵移位项系数，设环基数L值大于等于一个固定的环基数界限的最小值Lmin，则校验矩阵H特纳图周长值为12的充分必要条件为：|lj0-lj1|≠|lj2-lj3| 式3式3中j0、j1、j2、j3至多有两个相等；对于列重为3的式1所示校验矩阵II及式2所示的其子矩阵移位项系数，设环基数L值大于等于一个固定的环基数界限的最小值Lmin，则校验矩阵H特纳图周长值为10的充分必要条件为：式4式4中j0、j1、j2、j3至多有两个相等；按照式2得到满足校验矩阵H特纳图周长值要求的所有aij；接着选取环基数界限的最小值Lmin：设校验矩阵H的特纳图周长值为10，环基数的最小值为：Lmin＝2(2m-1-20)(ln-1-l0)+1 式5则当环基数满足L>Lmin时，利用固定的移位项系数所构造的校验矩阵H特纳图周长值为10；在编码器硬件实现中，只需要存储移位项系数值aij，并利用移位寄存器实现循环移位的结构。