A-D转换装置和校准单元

摘要：

一种用于校准时间误差的模/数(A-D)转换装置(100，120，130)包括：模拟信号输入部分(10)；多个模拟-数字转换器(12)；提供同步采样时钟信号或提供交替采样时钟信号的采样时钟信号发生器(14)；根据同步采样时钟信号，对A-D转换器输出的数字信号进行取平均处理的取平均处理单元(18b)；以及根据交替采样时钟信号将进行采样操作的A-D转换器输出的数字信号进行交替的交替处理单元(18a)。一种A-D转换装置包括用于计算时间误差的误差计算单元(72)、误差校准值计算单元(74)以及进行校准操作的误差校准单元(70b)。校准多个A-D转换器之间产生的误差的方法。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200810095884.8

申请日期：2000-03-24

公开/公告号：CN101267207

公开/公告日：2008-09-17

主分类号：H03M1/10(2006.01)I

申请/专利权人:株式会社爱德万测试

发明/设计人:川端雅之

主申请人地址:日本东京

专利代理机构:上海专利商标事务所有限公司

代理人:顾嘉运

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

1. 一种校准装置，校准在对由半导体器件输出的模拟信号进行采样以转换为数字信号的第一A-D转换器与在对模拟信号进行采样以转换为数字信号的第二A-D转换器之间所产生的误差，校准装置包括：一个误差计算单元，用于根据计算时间误差的采样测试信号获得的采样信号计算第二A-D转换器相对于第一A-D转换器预定的采样定时与第二A-D转换器的实际采样定时之间时间偏移量的时间误差；一个误差校准值计算单元，根据由所述误差计算单元计算出的时间误差计算时间误差校准值，用于第二A-D转换器的时间误差的校准计算；一个读出单元，从保存采样数据的存储单元读取数字信号，所述采样数据通过采样为被测模拟信号的被测信号得到；以及一个误差校准单元，当采样被测信号时，根据由所述读出单元从存储单元读出的采样数据以及由所述误差校准值计算单元计算出的时间误差校准值对由第二A-D转换器中产生的时间误差进行校准操作。