取样电路及取样方法

摘要：

一种取样电路，其包含有一取样单元、一第一延迟链电路、一反相器以及一第二延迟链电路。该取样单元检测一第一延迟信号与一第二延迟信号的边缘触发来分别取样一输入数据以产生一输出数据；该第一延迟链电路耦接于该取样单元，用来延迟一取样时钟信号以输出该第一延迟信号；该反相器用来反向该取样时钟信号以产生一反向取样时钟信号；以及该第二延迟链电路耦接于该反相器与该取样单元，用来延迟该反向取样时钟信号以输出该第二延迟信号。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200810083150.8

申请日期：2008-03-07

公开/公告号：CN101527555

公开/公告日：2009-09-09

主分类号：H03K5/153(2006.01)I

申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司

发明/设计人:陈逸琳;黄怡智

主申请人地址:中国台湾新竹科学园区

专利代理机构:北京市柳沈律师事务所

代理人:李芳华

国别省市代码:台湾;71

权利要求：

1.一种取样电路，其包含有： 一取样单元，其检测一第一延迟信号与一第二延迟信号的边缘触发(edge trigger)来分别取样一数据信号以产生一输出数据； 一第一延迟链(delay chain)电路，用来延迟一取样时钟信号以产生该第一延迟信号； 一第一反相器(inverter)，用来反向该取样时钟信号以产生一反向取样时钟信号；以及 一第二延迟链电路，用来延迟该反向取样时钟信号以产生该第二延迟信号。