一种键盘及键盘检测方法

摘要：

本发明涉及一种键盘及键盘检测方法，所述键盘包括按键矩阵，其特征在于，还包括串联在所述按键矩阵的列接口之间的列分压电阻链、串联在所述按键矩阵的行接口之间的行分压电阻链，和用于检测分压电位的电压检测电路；触发按键后，电压检测电路将检测到的被触发按键的行分压电位与行参考电位进行比较以确定所述被触发按键的列值，将检测到的被触发按键的列分压电位与列参考电位进行比较以确定所述被触发按键的行值。所述方法包括检测被触发按键的行分压电位和列分压电位；分别将检测到的被触发按键的行和列分压电位与行和列参考电位进行比较以确定所述被触发按键的列值和行值。实施本发明的键盘和键盘检测方法，键盘就只有4个接脚。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200810067632.4

申请日期：2008-06-03

公开/公告号：CN101599770

公开/公告日：2009-12-09

主分类号：H03M11/24(2006.01)I

申请/专利权人:深圳长城开发科技股份有限公司

发明/设计人:陈 耿

主申请人地址:518035广东省深圳市福田区彩田路7006号

专利代理机构:深圳市顺天达专利商标代理有限公司

代理人:郭伟刚

国别省市代码:广东;44

权利要求：

1、一种键盘，包括按键矩阵，其特征在于，还包括串联在所述按键矩阵的列接口之间的列分压电阻链、串联在所述按键矩阵的行接口之间的行分压电阻链，和用于检测分压电位的电压检测电路；触发按键后，电压检测电路将检测到的被触发按键的行分压电位与行参考电位进行比较以确定所述被触发按键的列值，将检测到的被触发按键的列分压电位与列参考电位进行比较以确定所述被触发按键的行值。