基于MCU的电容感应式触摸按键及触摸按键电容的测量方法

摘要：

本发明涉及一种基于MCU的电容感应式触摸按键及触摸按键电容的测量方法，触摸按键分布在PCB印刷电路上且分别与MCU的I/O口端及电阻R的一端连接，R的另一端接地。优点：一是采用电容触摸感应技术设计触摸按键，成本低，无需特殊传感器；二是功耗较低；三是感应式轻触即可实现其信号的输出；四是实现方式的可以多样性，并且可以实现精度定位；五是可替代各种机械按键、开关和接近探测器；六是结构简单，耐磨损的好；七是由于不使用传统的按键，该触摸感应按键可采用整体无缝面板，其防尘效果极佳，提高了产品的可靠性。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200810006684.0

申请日期：2008-01-31

公开/公告号：CN101499793

公开/公告日：2009-08-05

主分类号：H03K17/96(2006.01)I

申请/专利权人:杭州利尔达科技有限公司

发明/设计人:何 佳;王鲁克;梁 源;贾 灵;张其华;祝继华;张 冲;赵振东

主申请人地址:310011浙江省杭州市登云路425号利尔达大厦

专利代理机构:杭州中平专利事务所有限公司

代理人:翟中平%王俊城

国别省市代码:浙江;33

权利要求：

1、一种基于MCU的电容感应式触摸按键，其特征是：触摸按键分布在PCB印刷电路上且分别与MCU的I/O口端及电阻R的一端连接，R的另一端接地。