图像形成装置、图像形成方法、图像形成程序及记录该程序的计算机可读取的记录介质

摘要：

本发明的图像形成装置，包括：电阻检测部(14)，检测保持在显影剂承载体(12)表面的双成分显影剂(11)的体积电阻率；电阻存储部(16)，存储预先设定的体积电阻率；电阻比较部(15)，比较由电阻检测部(14)检测的双成分显影剂(11)的体积电阻率、及存储在电阻存储部(16)中的上述设定的体积电阻率；以及控制部(17)，在双成分显影剂(11)的体积电阻率小于上述设定的体积电阻率时，执行用于更换双成分显影剂或载体的处理。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200780022494.1

申请日期：2007-04-16

公开/公告号：CN101473279

公开/公告日：2009-07-01

主分类号：G03G15/08(2006.01)I

申请/专利权人:夏普株式会社

发明/设计人:武藤吉纪

主申请人地址:日本大阪府

专利代理机构:中原信达知识产权代理有限责任公司

代理人:谢丽娜%关兆辉

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

1. 一种图像形成装置，具有显影单元，该显影单元包括：显影剂承载体，在内部配置有磁场产生构件，并具有能够旋转的非磁性且导电性的套筒，在该显影剂承载体的表面保持含有载体及调色剂的显影剂；和显影剂限制部件，限制保持在上述显影剂承载体上的上述显影剂向图像承载体的供给量，该图像形成装置通过从上述显影单元向上述图像承载体供给的上述显影剂，使形成在上述图像承载体表面的静电潜影显影化，其特征在于，包括：电阻检测构件，检测保持在上述显影剂承载体的表面上的上述显影剂的体积电阻率；电阻存储部，存储预先设定的体积电阻率；电阻比较构件，比较由上述电阻检测构件检测的上述显影剂的体积电阻率、及存储在上述电阻存储部中的上述设定的体积电阻率；以及控制构件，在上述显影剂的体积电阻率小于上述设定的体积电阻率时，执行用于更换上述显影剂或上述载体的处理。