X射线双线阵三维成像方法

摘要：

X射线双线阵三维成像方法，采用两组X射线源，即第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P，穿过检测点P的射线由第一线阵3接受转变为电信号输入计算机，第二X射线源2’穿过被检工件1中的检测点P，穿过检测点P的射线由第二线阵3’接受转变为电信号输入同一计算机，然后两组X射线源相对初始位置转动几个角度，或者被检工件1相对初始位置转动几个角度，分别由第一X射线源2穿过被检工件1中的检测点P被第一线阵(3)接受转变为电信号输入计算机，由第二X射线源2’穿过被检工件1中的检测点P被第二线阵3’接受转变为电信号输入同一计算机，输入计算机的图像数据被加载到内存，或进行数据压缩，分别处理合成一幅立体图像。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200710019073.5

申请日期：2007-11-01

公开/公告号：CN101424869

公开/公告日：2009-05-06

主分类号：G03B42/02(2006.01)I

申请/专利权人:兰州三磊电子有限公司

发明/设计人:陈 明;王向东;赵肖东;刘中彦;张天佑

主申请人地址:730060甘肃省兰州市高新技术产业开发区张苏滩575号(创新园创业大厦B座8层)

专利代理机构:兰州振华专利代理有限责任公司

代理人:董 斌

国别省市代码:甘肃;62

权利要求：

1、X射线双线阵三维成像方法，用X射线源产生的X射线穿过被检工件(1)中的检测点(P)，穿过检测点(P)的射线由线阵接受转变为电信号输入计算机进行数据处理，其特征在于采用两组X射线源，即第一X射线源(2)穿过被检工件(1)中的检测点(P)，穿过检测点(P)的射线由第一线阵(3)接受转变为电信号通过线路(4)输入计算机，第二X射线源(2’)穿过被检工件(1)中的检测点(P)，穿过检测点(P)的射线由第二线阵(3’)接受转变为电信号通过线路(4’)输入同一计算机，然后两组X射线源相对初始位置转动一角度(θ1)，或者被检工件(1)相对初始位置转动一角度(θ1)，在由第一X射线源(2)穿过被检工件(1)中的检测点(P)，穿过检测点(P)的射线由第一线阵(3)接受转变为电信号输入计算机，第二X射线源(2’)穿过被检工件(1)中的检测点(P)，穿过检测点(P)的射线由第二线阵(3’)接受转变为电信号输入同一计算机，再然后两组X射线源相对初始位置转动一角度(θ2)，或者被检工件(1)相对初始位置转动一角度(θ2)，在由第一X射线源(2)穿过被检工件(1)中的检测点(P)，穿过检测点(P)的射线由第一线阵(3)接受转变为电信号输入计算机，第二X射线源(2’)穿过被检工件(1)中的检测点(P)，穿过检测点(P)的射线由第二线阵(3’)接受转变为电信号输入同一计算机，输入计算机的图像数据被加载到内存，或进行数据压缩，根据两线阵采集到的数据，进行硬件合成，直接显示到显示器，或分别取出两线阵的图像的数据，把两线阵相对与初始位置同一旋转角度的数据相加取平均值，合成一幅立体图像。