判别探针固定基体变化的方法、探针固定基体和检测装置

摘要：

本发明通过搭载对引起固相探针阵列等中的探针劣化的因子的有无或引起保护体变化的因子的有无进行判别的元件，读出该元件的变化，可以判断探针劣化的程度或保护体变化的程度。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200410092670.7

申请日期：2004-11-16

公开/公告号：CN1637154

公开/公告日：2005-07-13

主分类号：C12Q1/68

申请/专利权人:佳能株式会社

发明/设计人:石桥亨

主申请人地址:日本东京

专利代理机构:中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人:陈昕

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

1、一种探针固定基体，是在基体上固定了可与靶物质特异结合的探针的固定基体，其特征是还设置了对成为上述探针固定基体变化要因的环境变化进行检测的元件。