一种辐射测量烟丝填充值的方法及系统

摘要：

本发明涉及一种辐射测量烟丝填充值的方法及系统，在传输带的上下方或下上方相对设置γ射线放射源和γ射线探测器，在γ射线放射源的前方传输带上方设置压辊式测厚装置，通过γ射线探测器的输出信号获得无烟丝通过时γ射线探测器输出电压U₀；将待测烟丝置于输送带上，先后依次通过压辊测厚装置、γ射线放射源和γ射线探测器；通过γ射线探测器的输出信号获得被压辊压过的烟丝通过γ射线探测器时的输出电压Ui，及通过测厚装置的输出信号获得所述烟丝的厚度hi，将所述输出信号输入到与所述探测器和所述测厚装置连接的控制处理器进行运算处理；控制处理器按d＝h/K[ln(Ui/U0)](1±δ)公式进行运算，得烟丝填充值d；标定系数K和修正系数δ通过实物标定获得。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN200310121802.X

申请日期：2003-12-18

公开/公告号：CN1513387

公开/公告日：2004-07-21

主分类号：A24C5/34

申请/专利权人:邸生才

发明/设计人:邸生才

主申请人地址:100037北京市西城区百万庄大街中里2号楼5门402室

专利代理机构:北京律诚同业知识产权代理有限公司

代理人:梁挥%常大军

国别省市代码:北京;11

权利要求：

1、一种辐射测量烟丝填充值的方法，包括如下步骤：步骤1，在传输带的上、下方或下、上方相对应设置γ射线放射源和γ射线探测器，在γ射线放射源的前方传输带上方设置压辊式测厚装置，通过所述γ射线探测器的输出信号获得无烟丝通过时γ射线探测器输出电压U0；步骤2，将待测烟丝置于输送带上，先后依次通过所述压辊测厚装置、γ射线放射源和γ射线探测器；通过所述γ射线探测器获得被压辊压过的烟丝通过γ射线探测器时的输出电压Ui，以及通过所述测厚装置的输出信号获得所述烟丝的厚度hi，将所述输出信号输入到与所述探测器和所述测厚装置连接的控制处理器进行运算处理；步骤3，所述控制处理器按如下数据处理模型进行运算，获得烟丝填充值d：d＝h/K[ln(Ui/U0)](1±δ)其中，系数K、δ按已知烟丝填充值d0的烟丝进行标定，确定。