对去除微生物进行评价的方法以及用于对去除微生物进行评价的装置

摘要：

通过颗粒放射对待进行灭菌处理的微生物进行灭菌的效果进行评价。所述的评价可以通过下述方式进行：将微生物接入到容器(8)的内部空间，使用于对微生物进行灭菌处理的颗粒(7)照射所述微生物，在用颗粒(7)进行照射后，通过微生物采样工具(6)采集所述微生物。用于灭菌处理的微生物可以是一种或多种选自细菌霉菌病毒和变应原的组分相结合。作为颗粒的例如，阳离子、阴离子、阳离子和阴离子的混合气体，带电颗粒，如α射线、β射线、等离子气体颗粒，也可以使用臭氧、放射性颗粒和化学试剂颗粒。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN03807923.2

申请日期：2003-04-07

公开/公告号：CN1646698

公开/公告日：2005-07-27

主分类号：C12Q1/04

申请/专利权人:夏普株式会社

发明/设计人:西川和男;八木久晴;清水善弘;大谷哲幸;野岛秀雄;青木正人

主申请人地址:日本大阪市

专利代理机构:中国专利代理(香港)有限公司

代理人:刘玥%孟凡宏

国别省市代码:日本;JP

权利要求：

1.一种对去除微生物进行评价的方法，该方法包括将微生物接入容器内部空间，使带有对所述微生物进行灭菌处理的阳离子的颗粒，和带有对所述微生物进行灭菌处理的阴离子的颗粒同时照射所述的微生物，采集所述微生物，测定所采集的经颗粒照射后微生物。