通过在半导体微芯片上进行电斑点印迹检测法分辩单核苷酸多态性

摘要：

本发明公开了一种利用硅微芯片上的电路快速检测单核苷酸多态性的方法。该方法能在将DNA电协助转运、浓缩和结合到所选电极(测试位点)后，准确地辨别扩增好的DNA样品。所述测试位点构成规则的样品阵列，后者可利用包含野生型序列和错配序列这两种标记报告分子的内部控制来加以分辨。利用该方法分辨了甘露糖结合蛋白的复杂四等位基因SNP。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN00800968.6

申请日期：2000-03-28

公开/公告号：CN1313906

公开/公告日：2001-09-19

主分类号：C12Q1/68

申请/专利权人:内诺金有限公司

发明/设计人:帕特里克·N·吉勒斯;帕特里克·J·狄龙;戴维·J·吴;查尔斯·B·福斯特;斯蒂芬·J·差诺克

主申请人地址:美国加利福尼亚州

专利代理机构:中科专利商标代理有限责任公司

代理人:胡交宇

国别省市代码:美国;US

权利要求：

权利要求书1．一种利用有多个测试位点的电寻址微芯片来检测单核苷酸多态性的方法，包括：ⅰ．提供至少一个含有至少一种目标靶核酸的样品，所述靶核酸含有至少一个SNP；ⅱ．任选将所述靶核酸作扩增反应从而形成扩增产物；ⅲ．使所述靶核酸或所述扩增产物电寻址到微芯片的特定测试位点；ⅳ．将所述靶核酸或所述扩增产物捕获到所述测试位点；ⅴ．提供SNP特异性探针并使该探针与所述靶核酸或所述扩增产物进行电杂交以形成杂交复合物；ⅵ．对所述杂交复合物实行电严紧条件从而使杂交复合物去稳定，其中杂交复合物含有至少一个在所述靶核酸或扩增产物与探针之间形成的错配；以及ⅶ．在(ⅵ)的电严紧之后检测保持稳定的杂交复合物。