检测DNA芯片的制造方法

摘要：

检测ＤＮＡ芯片的制造方法的步骤如下：①寡核苷酸的合成与修饰，②寡核苷酸片段氧化，③寡核苷酸片段的标记，④玻片表面的脂肪氨基化，⑤寡核苷酸片段的固定。这种方法基于核酸保护原理的ＤＮＡ芯片检测技术，ＤＮＡ芯片各个位点的ＤＮＡ探针量已知而且待测样品无需预先用同位素或荧光基团标记，因其操作简单、结果可靠而易于在临床诊断中推广。

专利类型：发明专利

申请/专利号：CN00119541.7

申请日期：2000-08-01

公开/公告号：CN1283703

公开/公告日：2001-02-14

主分类号：C12Q1/68

申请/专利权人:上海交通大学

发明/设计人:曾而良;刘建华;林志新

主申请人地址:200030上海市华山路1954号

专利代理机构:上海交通大学专利事务所

代理人:王锡麟

国别省市代码:上海;31

权利要求：

权利要求书1、一种检测DNA芯片的制造方法，其特征在于该方法步骤如下①寡核苷酸的合成与修饰，②寡核苷酸片段氧化，③寡核苷酸片段的标记，④玻片表面的脂肪氨基化，⑤寡核苷酸片段的固定。