基于FPGA的IIC测试系统的研究与实现
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1009-0134.2015.08.018

基于FPGA的IIC测试系统的研究与实现

引用
为了提高芯片I C接口的测试效率与精度,提出了一种基于FPGA平台的I C接口测试系统,该系统率先通过设计码型发送器与码型接收器,构造了一个强大的I C接口测试工具。通过FPGA对IIC总线发送码型数据和采集码型数据,最后调用MFC软件进行分析得到测试结果。整个测试流程运用TCl脚本控制实现全自动化。该系统测试精度高达5ns,测试结果准确可靠。不仅能够实现IC波形的重现,而且能在示波器精度不高时得到精确的测量。

FPGA、I C、Slave、Master、TCl

TP27(自动化技术及设备)

2015-05-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

61-64

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

制造业自动化

1009-0134

11-4389/TP

2015,(8)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn