10.3969/j.issn.1009-0134.2015.03.039
AlN-TiB2复相导电陶瓷的制备及性能研究
以微米AlN、微米TiB2以及纳米SiC为主要原料,以微米Y2o3和微米Al2o3为添加剂,采用真空N2气氛保护热压烧结工艺制备了AlN-TiB2复相导电陶瓷材料。测试和分析了烧结样品的相对密度、弯曲强度、硬度值以及导电性能。结果表明,当微米AlN添加量为55wt%,微米TiB2为20wt%,纳米SiC为20wt%,微米Y2o3为3wt%以及微米Al2o3为2wt%时,且烧结温度为1880℃时,所制备的AlN-TiB2复相导电陶瓷材料性能最佳,其相对密度为94.45%,弯曲强度为512.35MPa,洛氏硬度为104.25,电阻率值为1526μΩ.cm。
微米AlN、热压烧结、力学性能、导电性能、固溶强化
TP211(自动化技术及设备)
河南省教育厅自然科学研究项目2011C460001
2015-03-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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