10.19287/j.mtmt.1005-2402.2023.07.026
一种基于自适应条纹投影的高光视觉测量方法
在条纹投影轮廓术中,高光通常会导致捕获条纹的饱和,并降低测量精度.为了解决这一问题,提出了一种新的自适应条纹投影方法.采用双目提供的立体几何解相法减少条纹的投影数量,提高自适应投影的效率;采用交比不变约束,提高投影仪和相机之间的对应精度.比传统单目FPP重建结果拟合平面的标准偏差减小了 0.049 mm,平面度提升了 84.5%.前后两平面表面之间距离为 8.829 mm,与标准值误差为 0.045 mm,提升了 42.3%.所提方法实现了局部过曝区域相位信息的完整提取,有效解决了高反光物体三维面形测量的难题.相比传统FPP方法重建结果有明显提升,说明本文改进算法的有效性.
自适应、条纹投影、过曝区域
TH122
2023-08-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共7页
169-175