10.3969/j.issn.1674-3202.2005.03.005
《集成电路测试与可测性设计》的教学探索
跟随当前集成电路技术的发展,在微电子专业开设课程<集成电路测试与可测性设计>,完善了学生的专业知识结构.
<集成电路测试可测性设计>、微电子、教学研究
25
G642.0(高等教育)
2005-11-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共2页
15-16
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10.3969/j.issn.1674-3202.2005.03.005
<集成电路测试可测性设计>、微电子、教学研究
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G642.0(高等教育)
2005-11-03(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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