邻近铀微粒的二次离子质谱测量干扰研究

摘要：

二次离子质谱(SIMS)测定铀微粒同位素比时,邻近微粒间可能产生干扰.在IMS-6f型SIMS上开展U350和U0002铀微粒在不同间距、不同测量顺序下铀同位素比测量研究,结果表明,微粒间距超过22 μm(U350)和35 μm(U0002)时,微粒的234U/238U、235U/238U、236U/238U测定结果与标称值相符;相同间距时,丰度低的微粒比丰度高的微粒受到的干扰严重,安全距离也更大;同一距离下,后测量的微粒比先测量的微粒受到的干扰严重,形貌疏松、尺寸小的微粒比密实、尺寸大的微粒受到的干扰严重.由已知两种丰度微粒计算得出的线性组合系数K4(234U/=238U)、K5 (235U/238U)和K6(236U/238U)是否相近可以作为可疑混合微粒的判断准则.采用微操作进行单微粒剥离是消除相邻微粒干扰的有效方法.该工作为SIMS分析过程中有邻近微粒干扰时,发现、处理和排除可疑混合微粒数据,准确测量铀微粒同位素提供了参考.

关键词：二次离子质谱(SIMS)、微粒分析、微操作、核保障

所属期刊栏目：42

分类号：O657.63(分析化学)

在线出版日期：2021-05-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：326-333