表面热电离同位素稀释质谱法的计算及质量分馏效应校正

摘要：

表面热电离同位素稀释质谱法(ID-T IM S)是国际公认的基准方法之一.本文以稀释分析锶同位素为例,详细介绍了其计算和推导过程,提出基于指数近似模式的稀释分析同位素分馏校正的方法.该方法适用于校正含有两对参考比值的元素静态多接收稀释分析同位素比值的质量分馏,与指数校正方法和对数校正方法相比,计算过程更简单.还讨论了稀释剂同位素比值准确度对稀释分析同位素比值的影响及其质量分馏的校正方法,通过数学迭代计算质量分馏系数,得到稀释剂测量的质量分馏系数和准确的同位素比值.采用建立的质量分馏校正方法稀释分析NBS987,结果表明,在误差范围内与其参考值(87 Sr/86 Sr=0.710237±8(1σ))一致.

关键词：表面热电离同位素稀释质谱法(ID-TIMS)、质量分馏、校正

所属期刊栏目：40

分类号：O657.63(分析化学)

在线出版日期：2019-09-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：492-498