离子阀技术在垂直引入式飞行时间质谱仪中的应用

摘要：

垂直引入式飞行时间质谱仪(O-TOF MS)是以脉冲的工作方式对样品进行检测,对于离子源产生的连续离子流利用率极低.为了使O-TOF MS更好地匹配离子源,在自制的大气压接口垂直引入式飞行时间质谱仪(API-O-TOF MS)的基础上开发了离子阀技术,将原本连续进入推斥区的离子流调制为与推斥脉冲同步的离子团,提高推斥占空比,进而提高离子利用率.通过进一步研究富集原理以及分析富集参数的影响,确定了离子富集的最佳参数.以PPG-1000为实验对象,在同等条件下,离子信号强度普遍提升1个数量级以上.该结果表明,离子阀技术在O-TOF MS中的应用可有效提高仪器的离子利用率.

关键词：垂直引入式飞行时间质谱仪(O-TOFMS)、离子利用率、离子阀、占空比

所属期刊栏目：38

分类号：O657.63(分析化学)

资助基金：国家重大科学仪器设备开发专项2011YQ170067;广东省工程中心建设项目2015B0903029

在线出版日期：2017-06-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：294-301